DTA差热分析仪（氧化诱导期分析仪）

DTA差热分析仪（氧化诱导期分析仪）

一、功能和用途：

DTA：差热分析是在程序控制温度下，测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。差热分析曲线是描述样品与参比物之间的温度(△T)随温度或时间的变化关系。在DTA试验中，样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。如：相转变，熔化，结晶结构的转变，沸腾，升华，蒸发，脱氢反应，断裂或分解反应，氧化或还原反应，晶格结构的破坏和其他化学反应。

二、技术指标：

DTA	GCDZ3320A
温度范围	室温~1150℃
量程范围	0～±2000μV
DTA精度	±0.1μV
升温速率	1～60℃/min
温度分辨率	0.1℃
温度准确度	±0.1℃
温度重复性	±0.1℃
温度控制	升温：程序控制可根据需要进行参数的调整
	降温：风冷程序控制可选配半导体冷却系统、液氮冷却系统等
	恒温：程序控制恒温时间任意设定
炉体结构	炉体采用上开盖式结构，代替了传统的升降炉体，精度高，易于操作
气氛控制	气体流量计，气氛转换装置
数据接口	RS-232串口通讯配套数据线和操作软件
主机显示	汉字大屏液晶显示蓝底白字
参数标准	配有标准物：用户可自行对温度进行校正
参数标准	基线调整：用户可通过基线的斜率和截距来调整基线
工作电源	AC 220V 50Hz
符合标准：	GB/T17391-1998

三、仪器配置：

1. GCDZ 差热分析仪一台

2.气体流量计、气体转换装置一台

3.电源线一根

4.数据线两根

5.实验软件光盘一张

6.样品勺一只

7.镊子一只

8.气路皮管（安装到位）

9.陶瓷坩锅、铝坩埚 200只

10. 合格证、保修卡、说明书各一份

11.品牌电脑一台

12.打印机一台

※ 注明：请贵公司需要配置：氮气瓶、氧气瓶以及配套的减压表