东莞柳沁科技LQ-TS恒温检测设备 电子产品高温测试箱

LQ-TS-80A

LQ-TS-80B

LQ-TS-80C

LQ-TS-150A

LQ-TS-150B

LQ-TS-150C

LQ-TS-225A

LQ-TS-225B

LQ-TS-225C

LQ-TS--408A

LQ-TS--408B

LQ-TS--408C

标称内容积（升）

80

150

200

300

试验方式

气动风门切换2温室或3温室方式

性能

高温室

预热温度范围

＋60～＋200℃

升温速率※1

＋60→＋200℃≤20分钟

低温室

预冷温度范围

－78－0℃

降温速率※1

＋20→－75℃≤80分钟

试验室

温度偏差

±2℃

温度范围

A:（+60→+125）℃→（-40－-10）℃;

B:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃;

                 C:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃

温度恢复时间※2

5分钟以内

试样搁架承载能力

30kg

试样重量

7.5kg

7.5kg

10kg

10kg

内部尺寸(mm)

W

500

600

750

850

H

400

500

500

600

D

400

500

600

800

外形尺寸(mm)※4

W

1460

1560

1710

1880

H

1840

1940

1940

2040

D

1500

1600

1700

1900

※1温度上升和温度下降均为各冷热冲击测试箱单独运转时的性能。

※2冷热冲击测试箱恢复条件：室温为＋25℃和循环水温为＋25℃，试样是塑料封装集成电路。（均布）