表面粗糙度/轮廓测SV-C3100

　　Formtracer (表面粗糙度 / 轮廓测量装置) SV-C3100 / SV-C4100

　　特点

　　? 大幅提高的驱动速度(X 轴: 80 mm/s, Z2 轴立柱: 20mm/s) 进一步减少了总的测量时间。

　　? 为了更长时间地保持直线度，三丰公司采用了抗老化且极耐磨的非常坚固的陶瓷导轨;

　　? 驱动器 (X 轴) 和立柱 (Z2 轴) 均配备了高精度线形编码器 (其中Z2 轴上为ABS 型)。因此，在垂直方向对小孔连续自动测量、对较难定位部件的重复测量的重复精度得以提高。

　　基本技术参数:

　　基座尺寸 (W x H): 750 x 600mm 或 1000 x 450mm

　　基座材料: 花岗岩

　　重量

　　主机: 140kg (S4), 150kg (H4), 220kg (W4)

　　140kg (S8), 150kg (H8), 220kg (W8)

　　控制器: 14kg

　　遥控箱: 0.9kg

　　电源: 100 – 240VAC ±10%, 50/60Hz

　　能耗: 400W (主机)

　　轮廓测量技术参数:

　　X 轴

　　测量范围: 100mm 或 200mm

　　分辨率: 0.05µm

　　检测方法: 反射型线性编码器

　　驱动速度: 80mm/s、外加手动

　　测量速度: 0.02 - 5mm/s

　　移动方向: 向前/向后

　　直线度: 0.8µm / 100mm, 2µm / 200mm

　　* 以X 轴为水平方向上

　　直线位移: ±(1+0.01L)µm (SV-C3100S4, H4, W4)

　　精度 (20° C 时) ±(0.8+0.01L)µm (SV-C4100S4, H4, W4)

　　±(1+0.02L)µm (SV-C3100S8, H8, W8)

　　±(0.8+0.02L)µm (SV-C4100S8, H8, W8)

　　* L 为驱动长度(mm)

　　倾角范围: ±45°

　　Z2 轴 (立柱)

　　垂直移动: 300mm 或 500mm

　　分辨率: 1µm

　　检测方法: ABSOLUTE 线性编码器

　　驱动速度: 0 - 20mm/s、外加手动

　　Z1 轴 (检测器)

　　测量范围: ±25mm

　　分辨率: 0.2µm (SV-C3100),

　　0.05µm (SV-C4100)

　　检测方法: 线性编码器 (SV-C3100),

　　激光全息测微计 (SV-C4100)

　　直线位移: ±(2+I4HI/100)µm (SV-C3100)

　　精度 (20° C 时) ±(0.8+I0.5HI/25)µm (SV-C4100)

　　*H: 基于水平位置的测量高度(mm)

　　测针上/下运作: 弧形移动

　　测针方向: 向上/向下

　　测力: 30mN

　　跟踪角度: 向上: 77° , 向下: 87°

　　(使用配置的标准测头，依表面粗

　　糙度而定)

　　测针针尖 尖端半径: 25µm、硬质合金尖端

　　表面粗糙度测量的技术参数：

　　X1 轴

　　测量范围: 100mm 或 200mm

　　分辨率: 0.05µm

　　检测方法: 线性编码器

　　驱动速度: 80mm/s

　　移动方向: 向后

　　直线度: (0.05+1.5L/1000)µm (S4, H4, W4 型)

　　0.5µm/200mm (S8, H8, W8 型)

　　Z2 轴 (立柱)

　　垂直移动: 300mm 或 500mm

　　分辨率: 1µm

　　检测方法: ABSOLUTE 线性编码器

　　驱动速度: 0 - 20mm/s、外加手动

　　检测器

　　范围/分辨率: 800µm / 0.01µm, 80µm / 0.001µm,

　　8µm / 0.0001µm

　　(2400µm 使用测头选件)

　　检测方法: 无轨/有轨测量

　　测力: 4mN 或 0.75mN (低测力型)

　　测针针尖: 金刚石、90º / 5µmR

　　(60º / 2µmR: 低测力型)

　　导头曲率半径: 40mm

　　检测方法: 差动电感式