自动光学视觉检测仪 芯片外观缺陷快速检测 3DAOI星准IR9821
自动光学视觉检测仪 芯片外观缺陷快速检测 3DAOI星准IR9821
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自动光学视觉检测仪 芯片外观缺陷快速检测 3DAOI星准IR9821

发货
江苏省 苏州市
规格
-
苏州博众半导体有限公司
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产品特点

高精度:3D精度:±5um @3σ;支持100um BGA Balls;支持Surface dent检测;支持色彩检测

高兼容性:兼容BGA,QFN,LGA,QFP,SOP等多种封装形式;覆盖3*3mm-50*50mm芯片尺寸

易用性:快速换型时间

智能分类:缺陷智能分类,3 NG Buffer轨道

设备参数:

设备型号

 IR9821

出入料Input & Output Media

Tray to Tray

芯片尺寸Device Size

3x3 - 50x50mm

球径Minimum Ball Size

100um

表面检测能力

Surface defect capability

30x30um

3D精度3D rep/acc

5um

20um球高检测

Low Ball Inspection(Minimum height 20um)

有效

表面凹坑检测

Dent/Bulge Inspection(measure height/depth)

Avaliable(Bottom only)

分选Sorting

1x4 Head

色彩检测(选配)

Color Camera(option)

有效

芯片厚度检测(option)

Component Height Measurement(option)

有效

二维码读取

2D Code Reading

有效

字符识别OCR

有效

裂纹检测Crack Inspection

10um width

UPH

2500(PKG35X35 BGA)

11K(PKG5*5 QFN 5S)

21K(PKG5*5 QFN)